pomiar kształtu i uziarnienia cząstek

pomiar uziarnienia cząstek w powietrzu

pomiar granulacji cząstek - w wodzie i roztworach wodnych

pomiar zawartości PM (emisja, imisja)

pomiar aerosoli i zawieszonych kropel

pozostałe

wyposażenie uzupełniające

 IPS L       0,2 um - 600 um

 IPS LCW   0,2 um - 600 um 

 IPS SAM 0,4 um - 300 um

 IPS Q     0,4 um - 300 um

 IPS K      0,4 um - 300 um

 IPS KF     0,4 um - 300 um

 IPS P       0,4 um - 300 um

 IPS GA    0,4 um - 300 um

 IPS CR   0,4 um - 300 um

 IPS W     0,4 um - 300 um

 IPS T      0,4 um - 300 um

 IPS U           0,5 um - 600 um

 IPS UA        0,5 um - 2 mm

 2 DiSA        0,5 um - 2 mm

 mini 3D       0,5 um - 3 mm

 IPS A      2 um - 2 mm

 IPS BP    2 um - 2 mm

 AWK D    50 um - 4 mm

 AWK 3D     0,2 mm - 31,5 mm

 P_AWK 3D  0,2 - 15 mm

 AWK C  0,3 mm - 31,5 mm

 AWK B      1 mm - 130 mm

 UŚREDNIACZ   0,2 um - 2 mm

 SYSTEM MM  0,2 um - 130 mm

0,1 um     

1 um

0,001 mm   

10 um

0,01 mm   

100 um 

0,1 mm    

1 000 um   

1 mm

10 000 um

10 mm  

100 000 um

100 mm