20 listopada 2014

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

Urządzenie do pomiaru uziarnienia różnych materiałów 

 

PRZEZNACZENIE

 

  • Pomiar jednowymiarowy
  • Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0.3 do 31,5 mm.
  • Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych

 

METODA POMIARU

 

Przyrząd składa się z najnowszej klasy optycznego przyrządu pomiarowego, który mierzy przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na 256 klas wymiarowych.

 

SPOSÓB POMIARU

 

Analizator AWK C jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączony jest tor pomiarowy wielkości cząstek.

 

Elektroniczny blok pomiarowy [1] jest podłączony do komputera [2].

Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera [3].

Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5].

 

Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka i szerokość rynny dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.

 

Pomiędzy rynną dozownika, a czujnikiem pomiarowym znajduje się kominek [9], którego zadaniem jest uporządkowanie lotu ziaren o różnych kształtach.

Przez kominek [9] zasysane jest powietrze przez sprężarkę [8], która załączana jest za pomocą przełącznika sterującego [10].

 

Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] do pojemnika [7] znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych. 

 

Schemat analizatora AWK C

 

CHARAKTERYSTYKA

 

-  zakres pomiarowy  0,3 - 31,5 mm 
-  ilość klas pomiarowych  256
-  źródło światła  dioda Infrared lub dioda laserowa
-  zasilanie  230 V AC, 50 Hz
-  temperatura użytkowania  278 do 313 K
-  powierzchnia pomiarowa  2 500 mm2

 

KOMPLETACJA

 

- elektroniczny blok pomiarowy AWK
- sonda z kominkiem
- szafka AWK ze wspomaganiem aerodynamicznym
- dozownik z wymiennym lejkiem i rynną
- zestaw kabli
- komputer typu notebook
-  zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

DOKUMENTY

 

Analizator AWK C

PRZYRZĄDY