Urządzenie do pomiaru uziarnienia różnych materiałów 

PRZEZNACZENIE

• Pomiar jednowymiarowy
• Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0.3 do 31,5 mm.
• Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych

METODA POMIARU

Przyrząd składa się z najnowszej klasy optycznego przyrządu pomiarowego, który mierzy przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na 256 klas wymiarowych.

SPOSÓB POMIARU

Analizator AWK C jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączony jest tor pomiarowy wielkości cząstek.

Elektroniczny blok pomiarowy [1] jest podłączony do komputera [2].

Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera [3].

Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5].

Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka i szerokość rynny dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.

Pomiędzy rynną dozownika, a czujnikiem pomiarowym znajduje się kominek [9], którego zadaniem jest uporządkowanie lotu ziaren o różnych kształtach.

Przez kominek [9] zasysane jest powietrze przez sprężarkę [8], która załączana jest za pomocą przełącznika sterującego [10].

Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] do pojemnika [7] znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych. 

Schemat analizatora AWK C

CHARAKTERYSTYKA

KOMPLETACJA

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

DOKUMENTY

• Analizator AWK C - ulotka

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Przyrządy