26 stycznia 2015

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

PRZEZNACZENIE

 

  • Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych rozkładu wymiarów cząstek stałych w powietrzu niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych
  • Do pomiaru wielkości cząstek wilgotnych i sklejających się od 0.5 do 600 µm.
  • Do pomiaru wielkości cząstek niesklejających się od 2 do 2000 µm (opcja).
  • Do pomiaru granulacji zgodny z analizą sitową
  • Do określenia współczynnika kształtu według wymiaru maksymalnego/minimalnego cząstki
  • Do oznaczenia powierzchni właściwej (zgodny z metodą Blaine'a) badanych substancji (przy znanym stopniu porowatości ziaren).

 

METODA POMIARU

 

Sposób pomiaru analizatora IPS jest złożony i polega na pomiarze najmniejszych cząstek z uwzględnieniem wpływu dyfrakcji laserowej, by dla większych cząstek przejść stopniowo, w sposób ciągły, do pomiaru zmian strumienia promieniowania rozpraszanego przez poruszające się cząstki. W ten sposób uniknięto pewnych wad „dyfrakcji laserowej” stosowanej w pełnym zakresie pomiarowym, gdzie pojedyncze, największe cząstki dają słabe zmiany obrazu dyfrakcyjnego.

 

W analizatorach IPS nie ma ograniczeń optycznych dla pomiaru pojedynczych małych i dużych cząstek.

Strumień promieniowania w podczerwieni nie tylko identyfikuje wielkość cząstek, ale jeszcze pozwala je precyzyjnie zliczyć w całym zakresie pomiarowym.

 

Każdej cząstce odpowiada impuls elektryczny proporcjonalny do wielkości cząstki. Zbiór cząstek jest pierwotnie mierzony z podziałem na 4096 klas wymiarowych i przekształcany (kalibrowany) na 256 klas wymiarowych dostępnych dla użytkownika.

 

Pełna symulacja analizy sitowej wg metody Elsieve (zgodnie z naszym patentem P379496)

Częstość skanowania cząstek do 12 MHz (pomiary z częstością 12 000 000 razy na sekundę)

 

SPOSÓB POMIARU

 

Analizator składa się z czujnika pomiarowego [1] i układu pomiarowego [2], z którym zintegrowany jest elektroniczny układ automatycznego dozowania cząstek [3], zapewniający ciągłość pomiaru i kontrolę koncentracji cząstek w przestrzeni pomiarowej. Całością steruje komputer [5].

Elementem wykonawczym w układzie automatycznego dozowania jest miniaturowa sprężarka [4] o specjalnej charakterystyce dopasowanej do płynnej regulacji przepływu powietrza.

 

Schemat analizatora 2DiSA

 

Do rozdzielania cząstek w procesie dozowania analizatora IPS U stosuje się dozownik ultradźwiękowy [6] w postaci wklęsłego naczynia, w którym dno drga z częstością około  40 kHz i z amplitudą dochodzącą do kilku µm. Zawilgocona substancja podczas wibracji wysusza się, tak, że nawet duża zawartość wilgoci w próbce nie przeszkadza w pomiarach. Dla dozowania możliwie różnorodnych proszków sterowanie amplitudą i ilością impulsów ultradźwiękowych ma około 4000 stanów przejściowych pomiędzy zerem a maksymalnym wzbudzeniem dozownika, co daje 16 000 000 stopni do regulacji dozownika
 

Dla precyzyjnego dozowania niezbędne jest także sterowanie przepływającym powietrzem, które unosi rozdzielone wcześniej cząstki i transportuje je do strefy pomiaru. Sterowanie przepływem powietrza ma około 300 poziomów prędkości. Tak precyzyjny sposób sterowania dozownikiem pozwala szybko (do kilkunastu tysięcy cząstek na sekundę) mierzyć pojedyncze cząstki i uniknąć nakładania się cząstek w strefie pomiaru.

 

Bardzo użyteczne jest różnorodne oprogramowanie analizatora IPS. Oprócz programu pomiarowego oferowany jest program optymalizacji dowolnego parametru w funkcji granulacji badanego proszku i program przeliczający granulacje w dowolnej kalibracji np. sitowej, aerometrycznej czy sferycznej. Wyniki pomiarów przedstawione są na kolorowych wykresach i w postaci przejrzystych tabel.

 

CHARAKTERYSTYKA

 

-  zakres pomiarowy 0,5 - 2000 µm 
-  ilość klas pomiarowych  256
-  źródło światła  dioda Infrared lub dioda laserowa
-  zasilanie  230 V AC, 50 Hz
-  temperatura użytkowania  278 do 313 K
-  ciężar analizatora  15 kg
-  rejestracja i archiwizacja wyników pomiarów  automatyczna
-  sposób komunikacji z komputerem  port USB 2.0

 

KOMPLETACJA

 

- główny moduł elektroniczny IPS z kartą A/C
- dozownik ultradźwiękowy
- dozownik automatyczny
- zestaw kabli
- komputer typu notebook
- zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

DOKUMENTY

 

Analizator 2DiSA

PRZYRZĄDY