23 listopada 2014

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

PRZEZNACZENIE

 

  • Do pomiaru ,,on-line” wymiaru i koncentracji cząstek zawieszonych w powietrzu, niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych.
  • Pomiar izokinetyczny dla prędkości do 20 m/s.
  • Dodatkowo mierzona jest temperatura i wilgotność powietrza.
  • Przeznaczony do zamocowania na poruszającym się pojeździe. Zintegrowany z GPS może służyć do tworzenia map zanieczyszczenia powietrza na kontrolowanym obszarze.

 

METODA POMIARU

 

Sposób pomiaru analizatora IPS jest złożony i polega na pomiarze najmniejszych cząstek z uwzględnieniem wpływu dyfrakcji laserowej , by dla większych cząstek przejść stopniowo, w sposób ciągły, do pomiaru zmian strumienia promieniowania rozpraszanego przez poruszające się cząstki. W ten sposób uniknięto pewnych wad „dyfrakcji laserowej” stosowanej w pełnym zakresie pomiarowym, gdzie pojedyncze, największe cząstki dają słabe zmiany obrazu dyfrakcyjnego.

 

W analizatorach IPS nie ma ograniczeń optycznych dla pomiaru pojedynczych małych i dużych cząstek.

Strumień promieniowania w podczerwieni nie tylko identyfikuje wielkość cząstek, ale jeszcze pozwala je precyzyjnie zliczyć w całym zakresie pomiarowym.

 

Każdej cząstce odpowiada impuls elektryczny proporcjonalny do wielkości cząstki. Zbiór cząstek jest pierwotnie mierzony z podziałem na 4096 klas wymiarowych i przekształcany (kalibrowany) na 256 klas wymiarowych dostępnych dla użytkownika.

 

SPOSÓB POMIARU

 

IPS - Q składa się z sondy pomiarowej [1] połączonej ze sprężarką [2] za pomocą sztywnej rury [3], w której prowadzone są dodatkowe przewody elektryczne, zakończone wtyczką [5].

Przewód [6] o długości do kilku metrów łączy sondę pomiarową z elektronicznym układem pomiarowym i sterującym [7].

 

Układ [7] sterowany jest z komputera typu notebook [9] z pomocą jednometrowego kabla [8]. Układ pomiarowy [7] i komputer [9] zasilane są prądem zmiennym o napięciu 220 V. Opcjonalnie istnieje możliwość zasilania prądem stałym o napięciu 12 V.

 

W sondzie pomiarowej [1] znajduje się czujnik cząstek [10], z którym zintegrowany jest układ do pomiaru wydatku, rurka Prandtla [11] do pomiaru prędkości oraz czujniki temperatury i wilgotności opływającego sondę powietrza. Sonda [1] wyposażona jest ponadto we wlot [12], filtr [13] i wstępne wzmacniacze elektroniczne [14].

 

Powietrze przepływające przez filtr [13] zabezpiecza optykę czujnika cząstek [10] przed zabrudzeniem.

Elektroniczny układ pomiarowy i sterujący [7] zapewnia izokinetyczny wlot powietrza do analizatora za pomocą pomiaru prędkości przez rurkę Prandtla [11] i regulację wydatku przez sprężarkę [2].

W przypadku, gdy w powietrzu występuje zbyt wielka koncentracja cząstek, układ automatycznie zaczyna sygnalizować poziom nadmiernej koncentracji cząstek w przestrzeni pomiarowej. Wówczas należy dobrać inną (mniejszą) dyszę wlotową [12]. Wydatek jest mierzony co 0,1 sekundy z dokładności 0,4%. Do obliczania wartości wydatku uwzględnia się wpływ temperatury. Objętość wyliczona jest z sumy chwilowych wydatków. Zmiany wydatku nie wpływają na dokładność pomiaru zassanej objętości.

 

CHARAKTERYSTYKA

 

-  zakres pomiarowy 0,4 - 300 µm 
-  ilość klas pomiarowych  256
-  źródło światła  dioda Infrared lub dioda laserowa
-  zasilanie  230 V AC, 50 Hz
-  temperatura użytkowania  278 do 313 K
-  zgodność z normami

 

KOMPLETACJA

 

- główny moduł elektroniczny IPS
- sonda pomiarowa
- zestaw kabli
- komputer typu notebook
- zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows
- walizka transportowa

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

DOKUMENTY

 

Analizator IPS Q

PRZYRZĄDY