24 listopada 2014

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

Urządzenie do pomiaru uziarnienia grubych kruszyw

 

PRZEZNACZENIE

 

  • Do automatycznego pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia grubych kruszyw od 1 do 130 mm 
  • Do pełnej symulacji pomiarów według sił mechanicznych. 
  • Do optymalizacji procesu mielenia czy doboru mieszanek.
  • Do określania kształtu ziaren.
  • Przyrząd może być wykonany w wersji trójwymiarowej, wówczas ma takie same możliwości jak AWK 3D

 

METODA POMIARU

 

Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w czujniku jest rozpraszany przez  przelatujące przez strefę pomiaru kruszywo. Układ pomiarowy składa się z wielokanałowego układu optycznego, który umożliwia przestrzenny pomiar cząstki w trzech kierunkach. Każdemu ziarnu odpowiada impuls elektryczny proporcjonalny do wielkości ziarna. Zbiór ziaren jest pierwotnie mierzony na 4096 klas wymiarowych i następnie przekształcony (kalibrowany) na 256 klas dostępnych dla użytkownika. Metoda ta charakteryzuje się olbrzymią powierzchnią pomiarową „s” x 300 mm o jednakowej czułości i specjalnym dozownikiem mogącym pomieścić kilkanaście kilogramów materiału mineralnego (MM). Wymiar „s” powierzchni pomiarowej zależy od rodzaju zastosowanej optyki i może wynosić 110, 160 lub 190 mm.

 

SCHEMAT POMIARU

 

Analizator AWK B wyposażony jest w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączone są: skrzynka sterowania elektrycznego [2], czujnik pomiarowy [3] i komputer typu desktop [4] ze specjalnym interface.Całość sterowna jest z klawiatury [5]. Po zakończonym pomiarze, który jest automatycznie zapisany w pamięci komputera ustawienia analizatora wracają do stanu początkowego.

 

Część robocza analizatora zbudowana jest w postaci wózka, gdzie na sztywnej ramie ze stali nierdzewnej [6] zawieszona jest skrzynka sterująca [2] wyposażona w siłownik elektryczny [7]. Siłownik [7] za pomocą popychacza [8] pochyla rynnę [9] zawieszoną na ułożyskowanym pręcie [10]. Na ramie [6] na dwóch podporach leży czujnik pomiarowy [3] z wlotem [11] o przekroju ok. 200 x 300 mm. Rynna [9] jest wyposażona dodatkowo w wibrator [12]. Podczas procesu pomiarowego wibrator [12] stopniowo osiąga drgania maksymalne i następnie rynna [9] zostaje pochylona do położenia dolnego. Wówczas cały MM zsuwa się z rynny [9] przez wlot [11] pod analizator. Intensywność zsuwania MM jest regulowana za pomocą komputera [4]. 

 

Schemat sondy pomiarowej analizatora AWK B

 

CHARAKTERYSTYKA

 

-  zakres pomiarowy 1 - 130 mm 
-  ilość klas pomiarowych  256
-  źródło światła  dioda Infrared lub dioda laserowa
-  zasilanie  230 V AC, 50 Hz
-  temperatura użytkowania  278 do 313 K
-  wymiary czujnika pomiarowego 1500*1020*400 mm

 

 

KOMPLETACJA

 

  elektroniczny blok pomiarowy  AWK
- czujnik pomiarowy z systemem dozującym
- skrzynka sterowana elektrycznego
- karta A/C
- komputer typu notebook
- zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows
-  zestaw kabli

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

DOKUMENTY

 

Analizator AWK B

PRZYRZĄDY