PRZYRZĄDY

Analizator P_AWK3D

ZAKRES POMIAROWY: 0,2 - 15 mm

 

PRZEZNACZENIE

 

  • Kontrola składu granulometrycznego w czasie rzeczywistym, z automatycznym pobieraniem próbek bezpośrenio z taśmy produkcyjnej.
  • Natychmiastowa ocena uziarnienia z możliwością alarmu w przypadku wadliwej produkcji.
  • Pomiar trójwymiarowy.
  • Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
  • Do optymalizacji procesu mielenia czy doboru mieszanek.
  • Do określania kształtu ziaren.

 

METODA POMIARU

 

Analizator uziarnienia i kształtu cząstek przystosowany do przemysłowych pomiarów on-line z taśmy produkcyjnej jest dostosowanym do warunków panujących na hali produkcyjnej przyrządem laboratoryjnym AWK 3D.

AWK 3D - sonda pomiarowa, pomiar kształtu

Sonda pomiarowa AWK 3D.

 

Przyrząd składa się z dwóch skrzyżowanych pod kątem prostym optycznych przyrządów pomiarowych, które jednocześnie mierzą przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Taki przyrząd można było zbudować dzięki innowacyjnej technologii pomiarowej i cyfrowemu przetwarzaniu wyników pomiarów optycznych oferowanych przez firmę KAMIKA.
 

 

SPOSÓB POMIARU

 

Analizator AWK 3D jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [3], do którego podłączone są dwa niezależne tory pomiarowe wielkości cząstek, łącznie z licznikiem pomiarów, co daje możliwość określania kształtu cząstek w trzech wymiarach.

Elektroniczny blok pomiarowy [3] jest podłączony do komputera [1].

Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury
komputera.

Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5]. Drgania powoduje wirujący silniczek elektryczny oraz wspomaganie ultradźwiękowe.

Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.

Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] przez czujnik pomiarowy cząstek [7] do pojemnika znajdującego się w komorze [13]. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych.

 

system P_AWK 3D - produkcja

Schemat analizatora P_AWK 3D

 

W wersji produkcyjnej komora [13] jest bez dna i może być wyposażona w szufladę. Pozostałe elementy analizatora są bez zmian. Zmierzone ziarna, gdy nie ma szuflady mogą opaść do pojemnika poniżej analizatora. Analizator w wersji produkcyjnej ma dobrze zabezpieczone złącza elektryczne i możliwość współpracy z automatyką pobornika nawozu z taśmy produkcyjnej.

 

POMIAR Z TAŚMY PRODUKCYJNEJ 

 

Pomiary z taśmy produkcyjnej odbywają się w następujący sposób:

  • Pobornik co 15 minut pobiera granulat z taśmy, który przesypuje się do lejka [6].
  • Wówczas uruchamia się automatycznie pomiar uziarnienia i dopóki trwa pomiar jest blokowany pobornik. Pomiar uziarnienia trwa nie dłużej niż 10 minut. Po zakończonym pomiarze odblokowane jest działanie pobornika, a wyniki są archiwizowane i przesyłane do sieci.
  • W czasie pomiaru w czasie rzeczywistym wyświetlane są na ekranie komputera wyniki pomiaru analizy sitowej. Wyniki te porównywane są z zadaną normą i w razie przekroczenia wartości normowych wyświetlane jest ostrzeżenie lub alarm (zależnie od stopnia przekroczenia).
  • Odległość pomiędzy miejscem pomiaru a miejscem obserwowania wyników pomiarów w czasie rzeczywistym może dochodzić do 100m.

 

MONTAŻ ANALIZATORA P_AWK 3D NA LINII PRODUKCYJNEJ 

 

Analizator P_AWK 3D ustawia się w specjalnej zamkniętej szafce ochronnej obok przesypu przy taśmie. 

Analizator P_AWK 3D - produkcja

Umiejscowienie P_AWK 3D w szafce ochronnej.

 

Specjalnym pobornikiem około 100 razy na dobę pobiera się porcje nawozu i mierzy się rozkład uziarnienia. 

 

P_AWK 3D na linii produkcyjnej

Schemat montażu P_AWK 3D na linii produkcyjnej.

 

Program pomiarowy umożliwia kontrolę „on-line” składu granulometrycznego. Wyniki pomiarów zapisywane są na dysku twardym komputera i przesyłane do sieci. W przypadku złej oceny uziarnienia wywoływany jest alarm dźwiękowy i wizualny na monitorze komputera.

 

CHARAKTERYSTYKA

 
Charakterystyka P_AWK3D
  • zakres pomiarowy:
0,2 – 15 mm
  • ilość klas pomiarowych:
256 lub 11 dowolnych klas (sit)
  • wysoka rozdzielczość pierwotnego pomiaru do:
4096 kanałów pomiarowych
  • źródło światła:
dioda IR
  • zasilanie:
230 V AC, 50 Hz
  • temperatura użytkowania:
5-50ºC
  • dokładność
5%

 

 

ZALETY P_AWK3D

 

  • Pozwala na bieżącą kontrolę uziarnienia produkowanych granulatów.
  • Pozwala natychmiast wykryć i zareagować na problemy w trakcie procesu produkcyjnego, co daje duże oszczędności.
  • Przy opracowaniu komputerowym odpowiednich sygnałów daje możliwość sterowania maszynami przeróbczymi.
  • Umożliwia dobór odpowiednich proporcji do mieszanek.
  • Poprzez pommiar kształtu cząstek pozwala na prace badawczo-rozwojowe produktu. 
  • Baza ze szczegółowymi wynikami pomiarów dostępna dla kierownika produkcji, technologów, działu Badań i Rozwoju

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

Galeria zdjęć

Zapytanie o przyrząd

Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!
  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

27 stycznia 2015