Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
05 grudnia 2016
Podział przyrządów - OFERTA

 

pomiar kształtu i uziarnienia cząstek

pomiar uziarnienia cząstek

pomiar granulacji cząstek -  w wodzie i roztworach wodnych

pomiar zawartości PM (emisja, imisja) 

pomiar aerosoli i zawieszonych kropel

pozostałe

 mini 3D

 IPS UA

 IPS L

 IPS K

 IPS T

 IPS W

 2DiSA

 IPS U

 IPS LCW

 IPS KF

 AWK D

 IPS CR

 AWK 3D

 IPS A

 

 IPS SAM

 

 

 P_AWK 3D

 IPS BP

 

 IPS Q

 

 UŚREDNIACZ

 AWK B

 AWK C

 

 IPS P

 

 

 

 

 

 IPS GA

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

pomiar kształtu

i uziarnienia cząstek

pomiar uziarnienia cząstek

pomiar granulacji cząstek -  

w wodzie i roztworach wodnych

pomiar zawartości PM (emisja, imisja) 

pomiar aerosoli i zawieszonych kropel

pozostałe

 mini 3D

 IPS UA

 IPS L

 IPS K

 IPS T

 IPS W

 2DiSA

 IPS U

 IPS LCW

 IPS KF

 AWK D

 IPS CR

 AWK 3D

 IPS A

 

 IPS SAM

 

 

     

 P_AWK 3D

 IPS BP

 

 IPS Q

 

 UŚREDNIACZ

   

 AWK B

 AWK C

 

 IPS P

 

 

     

 

 

 

 IPS GA