Nasza metoda pomiarowa bazuje na teorii optyki geometrycznej i polega na pomiarze cząstek w równoległej wiązce światła. Analizowane cząstki poruszające się w powietrzu lub cieczy powodują, na skutek zjawiska rozproszenia, osłabienie strumienia świetlnego odbieranego przez fotodiodę. Miarą wielkości tego osłabienia jest amplituda sygnału elektrycznego uformowanego przez układ elektroniczny. Amplituda impulsu odpowiada maksymalnemu wymiarowi cząstki w kalibracji sferycznej. Po kalibracji sitowej zgodnej z metodą Elsieve (KAMIKA - patent nr 205738), zbiór cząstek może być przedstawiony zgodnie z tradycyjną metodą pomiaru na sitach mechanicznych.
Na poniższym rysunku przedstawiono zasadę pomiaru w równoległej wiązce światła.

 

 

Przestrzeń pomiarowa czujnika IPS jest ukształtowana przez układy optyczne A, B do których z nadajnika emitowane jest światło w zakresie bliskiej podczerwieni. Rozmiar przestrzeni pomiarowej może być dobrany do konkretnych potrzeb, dlatego też możemy mierzyć dowolnie duże cząstki.

 

Obróbkę sygnału realizujemy przy pomocy techniki cyfrowej używając przetwornika A/C IPS o częstotliwości 500 kHz i rozdzielczości 12 bitów. Każde ziarno, poruszające się w przestrzeni pomiarowej, skanowane jest od kilkunastu do kilkuset razy w zależności od swojej wielkości. Przy takiej częstotliwości przetwornika można z dokładnością do 1% określić amplitudę impulsu, co jest równoznaczne z dokładnością pomiaru wielkości (maksymalnego wymiaru) cząstki. 

 

W metodzie KAMIKA mierzone są wszystkie cząstki z próbki. Dzięki temu w wyniki pomiaru są rzeczywiste i uwzględniają każdą, nawet największą cząstkę w rozkładzie. Pomiar jest szybki, cyfrowy - mierzona jest cząstka po cząstce. Pomiar każdej pojedynczej cząstki można zobaczyć w czasie rzeczywistym na ekranie komputera w dostarczanym oprogramowaniu Oscyloskop:

 

Przy takim rozwiązaniu kluczowym staje się odpowiednie dozowanie, które dokładniej opisane jest przy poszczególnych przyrządach. 

 

Każdy przyrząd jest kalibrowany przy pomocy wzorców cząstek sferycznych Duke Standards według standardów i atestów firmy Thermo Fisher Scientific Inc., USA. Przykładowy pomiar wygląda następująco:

 

KAMIKA posiada dokładne algorytmy, które pozwalają przeliczyć amplitudę impulsu na odpowiadającą im maksymalną średnicę cząstki i wyznaczyć krzywą kalibracyjną.

 

Następnie przy pomocy wzmacniacza operacyjnego wyznaczane są krzywe kalibracyjne dla każdego z 3 pozostałych zakresów:

 

Krzywa kalibracyjna jest opisana skomplikowanym algorytmem i w pobliżu zera ma nieliniową postać:

 

 

Przy pomocy tak wykonanej kalibracji, która jest zapisana w pamięci komputera można szybko i dokładnie wykonywać pomiary rozkładu wielkości cząstek z dokładnością 1,5%. Kalibracja każdego urządzenia potwierdzana jest certyfikatem. Ważność takiego certyfikatu wynosi jeden rok, po tym czasie zalecamy wykonanie przeglądu i ponownej certyfikacji. 

Zasady pomiaru wielkości cząstek
17 grudnia 2014
  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm