Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
27 listopada 2014
Elsieve

Optyczno-elektroniczna symulacja pomiarów mikroziarn powyżej 0,5 μm według sit mechanicznych

 

STRESZCZENIE


Pomiary za pomocą sit mechanicznych, szczególnie mikroziarn są uciążliwe i mało dokładne. Obecna technika pomiarowa dysponuje różnymi metodami optycznymi pomiaru mikroziarn. Jedna z metod pomiarowych wykorzystuje sposób liczenia i mierzenia ziarn w równoległej wiązce promieniowania. Jest to najbardziej przydatna metoda pomiaru uziarnienia, która może zastąpić pomiary przy użyciu sit mechanicznych, symulując ich postać i dając identyczne co sita wyniki. Wyniki te można otrzymać już od 0,5 μm, co dla sit mechanicznych jest niemożliwe w prosty sposób do osiągnięcia. Nie ma ograniczeń co do wykorzystywania tej metody dla większych ziarn w całym zakresie używania sit mechanicznych.
Typowym urządzeniem do pomiaru uziarnienia według metody jest analizator IPS U przestawiony na stronie internetowej www.kamika.pl


UZASADNIENIE WYBÓRU METODY POMIAROWEJ


Z obecnie stosowanych metod optyczno-elektronicznego pomiaru uziarnienia, najbardziej przydatną metodą pomiaru mikroziarn może być sposób pomiaru w równoległej wiązce promieniowania. W metodzie tej można stosować dowolne źródła promieniowania, a przestrzeń pomiarowa jest ograniczona tylko konstrukcją układów optycznych. Wymiary cząstek są identyczne jak przy pomiarach mikroskopowych.


Dla dozowania materiałów ziarnistych w tej metodzie używa się głównie powietrza, ale dla materiałów w postaci zawiesin można używać wody lub roztworów wodnych przy zmienionej konstrukcji urządzenia.
Pomiar w powietrzu wszelkich suchych materiałów upraszcza przygotowanie i wykonywanie pomiarów. Takie pomiary można stosować do materiałów sklejających się lub zawilgoconych.
Jak przedstawiono na Rysunku 1. czujnik pomiarowy o prostej i zwartej konstrukcji składa się ze źródła promieniowania 1, które oświetla układ optyczny A formujący równoległą wiązkę światła 2 ograniczoną szczeliną o grubości do kilkuset μm. Wiązka światła 2 aż do układu optycznego B tworzy przestrzeń pomiarową. Układ optyczny B ogniskuje wiązkę na fotoelemencie 3.

 

 

Gdy w przestrzeni pomiarowej brak jakichkolwiek cząstek, to na wyjściu 4 z przedwzmacniacza płynie prąd stały wynikający z oświetlenia fotodiody.


Gdy w przestrzeni pomiarowej pojawią się cząstki porównywalne lub większe od grubości szczeliny to na skutek rozproszenia światła następuje zmiana napięcia na wyjściu 4 w postaci impulsu. Dla cząstek submikronowych zjawisko rozpraszania światła zostaje zmodyfikowane przez zjawisko dyfrakcji. W przestrzeni pomiarowej ze względu na przepływ powietrza lub wody ziarno jest jednoznacznie usytuowane i zawsze porusza się swym najmniejszym wymiarem i największym przekrojem wzdłuż kierunku ruchu.


Istnieje ścisła zależność pomiędzy maksymalnym wymiarem ziarna a amplitudą impulsu elektrycznego na wyjściu 4 oraz minimalnym wymiarem ziarna określonym przez szerokość impulsu. Zmierzone i policzone impulsy pozwalają jednoznacznie, dokładnie i powtarzalnie określić zbiór ziarn w jednostkach elektrycznych, to jest w kanałach przetwornika, które można zapisać w pamięci komputera.
Zapisany w pamięci komputera w postaci rozkładu statystycznego ilości i wielkości zbiór ziarn, po przeliczaniu na rozkład objętościowy, można porównać z rzeczywistymi pomiarami według sit mechanicznych.


Jak przestawiono na Rysunku 2. z powyższego porównania można uzyskać charakterystykę, która będzie kalibracją sitową optyczno-elektronicznego przyrządu pomiarowego.
Kalibracja jest przypisana dla określonego materiału składającego się z typowych co do kształtu, ale różnych wielkości ziarn.


W przypadku ziarn o kształcie innego typu należy zrobić inną kalibrację i stworzyć bibliotekę kalibracji sitowych.


Z biblioteki takich kalibracji zapisanych w komputerze można wybrać właściwą i przeliczyć statystycznie rozkład cząstek zapisanych w jednostkach elektrycznych na wymiary rzeczywiste i dokładnie zasymulować pomiary sitowe.

 

Metoda ELSIEVE jest metoda opatentowaną - patent nr 205738