Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
27 listopada 2014
Metalurgia

W branży odlewniczej analiza granulometryczna za pomocą optyczno-elektronicznych przyrządów może zastąpić analizę sitową według PN-H-11077:1983. Powyższa norma ustanawia pomiar piasków formierskich o przewadze ziarnistości cząstek większych niż 0,077 mm od sita 0,056 mm do sita 1,6 mm i pomiar betonitu o przewadze ziarnistości cząstek mniejszych niż 0,077 mm od sita 0,040 mm do sita 0,200 mm. 
 

Przyrządy produkcji KAMIKA umożliwiają pomiar ziarnistości i zapylenia dowolnego materiału używanego do produkcji mas formierskich łącznie z pomiarem granulacji kulek szklanych. 
 

Każdy pomiar można zarchiwizować. Po pomiarze wyniki mogą być przedstawione zgodnie z normą PN 83/H-11077l ub przeliczone na dowolny zestaw 11 sit. 
 

Ponadto oprogramowanie analizatorów, zgodnie z normą PN-H-11077:1983 daje możliwość obliczania powierzchni właściwej i wskaźnika kształtu ziaren materiałów formierskich. 

Pomiar elektroniczny może wyeliminować wpływ rozkalibrowania sit oraz wpływ zmian  rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie.

 

mini 3D

  

 

 

Analizator do pomiaru kształtu oraz rozkładu wymiarów cząstek stałych w powietrzu niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych w warunkach laboratoryjnych, pomiaru wielkości cząstek wilgotnych i sklejających się od 0.5 do 600 µm oraz cząstek niesklejających się od 2 do 3000 µm (opcja). Przyrządem mini 3D można zmierzyć granulację (zgodność z analizą sitową) oraz oznaczyć powierzchnię właściwą (zgodnie z metodą Blaine'a) badanych substancji (przy znanym stopniu porowatości ziaren).

 

 

 

2DiSA

 

 

 

Przyrząd do pomiaru współczynnika kształtu oraz wielkości cząstek, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm

 

 

 

 

IPS U

 

 

 

 

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm

 

 

 

 

IPS A

 

 

 

Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm

 

 

 

IPS L

 

 

 

Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych).
Pomiar cząstek stałych i olejowych.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm