Analizator mini3D
Analizator IPS KF - Pyłomierz
Analizator IPS BP
Analizator P_AWK 3D
Analizator mini
Analizator 2DiSA
Analiaztor IPS P - Pyłomierz
Analizator IPS K - Pyłomierz
Analizator IPS GA
Uśredniacz
Analizator IPS T
Analizator AWK D
Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia
Analizator IPS Q
Analizator IPS SAM
Stoisko do badania sprawności filtrów
Analizator AWK C
Analizator IPS U
Analizator AWK 3D
Przyrządy
Jakość zgodna z ISO 9001
Co potrzebujesz zmierzyć?
Media społecznościowe
Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru
Projekty unijne
Infolinia: +48 22 666 93 32
Wybierz język:
Nieograniczony
KAMIKA Instruments
zakres pomiarowy
W branży odlewniczej analiza granulometryczna za pomocą optyczno-elektronicznych przyrządów może zastąpić analizę sitową według PN-H-11077:1983. Powyższa norma ustanawia pomiar piasków formierskich o przewadze ziarnistości cząstek większych niż 0,077 mm od sita 0,056 mm do sita 1,6 mm i pomiar betonitu o przewadze ziarnistości cząstek mniejszych niż 0,077 mm od sita 0,040 mm do sita 0,200 mm.
Przyrządy produkcji KAMIKA umożliwiają pomiar ziarnistości i zapylenia dowolnego materiału używanego do produkcji mas formierskich łącznie z pomiarem granulacji kulek szklanych.
Każdy pomiar można zarchiwizować. Po pomiarze wyniki mogą być przedstawione zgodnie z normą PN 83/H-11077l ub przeliczone na dowolny zestaw 11 sit.
Ponadto oprogramowanie analizatorów, zgodnie z normą PN-H-11077:1983 daje możliwość obliczania powierzchni właściwej i wskaźnika kształtu ziaren materiałów formierskich.
Pomiar elektroniczny może wyeliminować wpływ rozkalibrowania sit oraz wpływ zmian rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie.