Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
27 listopada 2014
Budownictwo

Od wielu lat współpracujemy z wiodącymi firmami z branży budownictwa. Nasze urządzenia znalazły zastosowanie głównie przy sterowaniu, optymalizacji i kontroli jakości produkcji.

 

IPA L  \  IPS U  \  IPS A  \  IPS U  \  AWK 3D  \  AWK B

 

IPS L     
  Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych). Przystosowany do pomiaru szlamu kwarcowego i płatków aluminiowych. Pozwala sterować produkcją betonu komórkowego.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm.
     
IPS U    
 

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Przystosowany do łatwych pomiarów gispu syntetycznego, cementu, wapnia i innych substancji.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm
     
IPS A    
  Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Przystosowany do łatwych pomiarów piasku, węgla, popiołu i innych materiałów.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm
     
AWK 3D    

 

Przyrząd do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków).
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
Do trójwymiarowego określania kształtu ziaren
Zakres pomiarowy 0,2 - 31,5 mm
     
AWK B    

 

Unikalny przyrząd z automatycznym dozownikiem do pomiaru granulacji substancji charakteryzujących się dużą średnicą cząstek.
Zakres pomiarowy: 1 - 130 mm
     
System MM    
 

System do pomiaru uziarnienia materiałów mineralnych i określania krzywej uziarnienia w zakresie od 0,0005 do 130 mm.
Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji dowolnych parametrów.
Łączny zakres pomiarowy: 0,2 µm - 130 mm.