System MM

System do pomiaru uziarnienia materiału mineralnego    

Przeznaczenie:

Do określania w warunkach laboratoryjnych krzywej uziarnienia materiałów mineralnych
w zakresie od 0,0002 do 130 mm.

Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji dowolnych parametrów.

Założenia do systemu pomiarowego:

Podstawową kalibracją elektronicznych urządzeń pomiarowych jest kalibracja sitowa, wzorcowana na sitach mechanicznych użytkownika. Po przeprowadzeniu pomiaru, wynik automatycznie jest  zapamiętywany w komputerze w jednostkach elektrycznych i rozkład uziarnienia może być przeliczony według dowolnej kalibracji lub zestawu sit. Elektroniczne urządzenia pomiarowe mogą określać współczynnik kształtu ziaren. Jest to stosunek maksymalnego wymiaru ziarna do minimalnego.
Współczynnik ten zawsze jest większy od jedności, a dla kuli równa się 1.

Pomiar uziarnienia materiałów mineralnych (MM) może obecnie bazować na wielu różnych elektronicznych urządzeniach pomiarowych, które mają ten sam rodzaj kalibracji i sposób pomiaru.
Urządzenia te mogą być ze sobą połączone w system pomiarowy przedstawiony na rysunku.

Wszystkie analizatory wielkości cząstek i inne przyrządy pomiarowe połączone są przez FES (Fast Ethernet Switch) do serwera. Wyniki pomiarów zapamiętywane są równolegle w komputerze każdego urządzenia pomiarowego i na serwerze.

Przy każdym urządzeniu można opracować krzywą uziarnienia, MM ściągając wyniki pomiarów pozostałych urządzeń systemów z innych komputerów przez sieć.

Do sieci można przyłączyć następujące urządzenia: 

1.       IPS L dla zakresu od 0,0002 do 0,5 mm według wymiaru wielkości oczek sita;2.       IPS A/U dla zakresu 0,0005 – 2 mm według wymiaru wielkości oczka sita;3.       AWK 3D  lub AWK C dla zakreso 0,2 - 31,5 mm według wymiaru wielkości oczka sita;4.       AWK B dla zakresu 1 – 130 mm według wymiaru wielkości oczka sita.

Zgodnie z normą PN – 75B – 04482 przygotowuje się materiał przepłukany na jednym sicie 0,075 mm w celu odseparowania drobnych cząstek. Po zważeniu rozdzielonych frakcji i przygotowaniu zawiesiny drobnych cząstek w wodzie, można przystąpić do pomiaru za pomocą przyrządu IPS L. Pozostałą frakcję można pomierzyć na analizatorach IPS U i AWK. Pomiary ziarnistości frakcji z uwzględnieniem wagi frakcji sumuje się w specjalnym programie komputerowym, który może określić charakter uziarnienia gruntu. Czas wykonania pomiaru przy użyciu wszystkich urządzeń wynosi około jednej godziny.

Sposób pomiaru:

Sposób pomiaru uziarnienia MM przy pomocy IPS U i AWK przedstawia się następująco:

• MM należy wstępnie przesiać przez dwa sita o wymiarach 1 i 10 mm w celu podzielenia ich na trzy frakcje. Każdą frakcję się waży.
• Z najdrobniejszej frakcji, poniżej 1 mm, bierze się odpowiedniej wielkości próbkę (około 1 g) i mierzy się rozkład uziarnienia na analizatorze IPS UA z dozownikiem automatycznym.
• Średnia frakcję, od 1 do 10 mm, można zmierzyć w całości lub w części na analizatorze AWK 3D.
• Najgrubszą frakcję, mierzy się w całości na analizatorze AWK B
• Rozkłady z wszystkich frakcji, uwzględniając ich wagi, sumuje się.
• Jeśli są dodatkowe domieszki do MM, jak na przykład kamień wapienny, to ich domieszki również się sumuje, proporcjonalnie do wagi.
• Drobnoziarniste domieszki mierzy się przy pomocy analizatora IPS U, zmieniając dozownik z automatycznego na ultradźwiękowy.
• Otrzymany rozkład uziarnienia może być matematycznie i graficznie porównany w komputerze ze standardami określającymi przydatność danego MM do wymagań stawianych przez normę PN – S – 96025.
• Oprogramowanie umożliwia wprowadzenie zawartych w normie rozkładów uziarnienia MM do szybkiej kontroli uziarnienia.
• Wynik pomiaru po zsumowaniu rozkładów częściowych może być wydrukowany w postaci protokołu.
• Czas uzyskania wyników wynosi około pół godziny.

Ponadto system umożliwia:

Sprawdzanie uziarnienia różnych mieszanek MM jeszcze przed ich wymieszaniem w różnych proporcjach.

Optymalizację rozkładu uziarnienia w funkcji dowolnych parametrów, które mają wpływ na dany skład ziarnowy MM.

Kompletacja:

W systemie MM może pracować każdy z analizatorów produkcji KAMIKA Instruments. Analizatory do systemu można zestawiać dowolnie – zgodnie z preferencjami i możliwościami użytkownika.

Ponieważ system zbudowany jest blokowo kompletacja pełnego systemu może przebiegać etapami.

Aby w pełni wykorzystać możliwości systemu, przy zakupie 2 analizatorów potrzeba jest sieć wraz z serwerem. Szczegółowy opis oprogramowania zawarty jest w naszych publikacjach.

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe.

Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

Dyplom-wyróżnienie Kamika

Wszelkie prawa zastrzeżone KAMIKA 2024, Projekt strony internetowej JL

+48 (22) 666 93 32
+48 (22) 666 85 68

ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa