PRZYRZĄDY

sfera 3D analyser

Analizator sfera 3D dedykowany do pomiaru mikrosfer.

Dostępna wersja z czytnikiem kodów kreskowych.

 

PRZEZNACZENIE

 

  • pomiar wielkości i kształtu cząstek stałych w powietrzu niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych;
  • pomiar w warunkach laboratoryjnych - szybki i prosty;
  • pomiar wielkości cząstek wilgotnych i sklejających się od 0,5 do 600µm;
  • pomiar wielkości cząstek niesklejających się od 2 do 2000µm (opcja);
  • określenie granulacji - zgodność z analizą sitową;
  • oznaczanie powierzchni właściwej badanych substancji (przy znanym stopniu porowatości ziaren).

 

 

BUDOWA ANALIZATORA

 

Schemat analizatora sfera 3D przedstawiono na Rys. 1. Mierzoną substancję umieszcza się w dozowniku [1]. Występuje on w dwóch wersjach: ultradźwiękowej i automatycznej. Rodzaj dozownika dobieramy do wielkości i rodzaju mierzonych cząstek. W wyniku podciśnienia wytworzonego przez sprężarkę [2], mikrosfery są zasysane z dozownika  do rurki wlotowej [3]. Program pomiarowy steruje prędkością sprężarki w taki sposób, że cząstki zasysane są pojedynczo. Bezpośrednio za wylotem z rurki [3] znajduje się czujnik cząstek [4]. W czujniku tym znajdują się dwa niezależnie, prostopadłe do siebie tory pomiarowe [5, 6]. Miejsce ich krzyżowania się stanowi przestrzeń pomiarową [7]. Przelatująca przez przestrzeń pomiarową cząstka mierzona jest w dwóch prostopadłych kierunkach przez tory [5 i 6], natomiast trzeci wymiar jest wyznaczany na podstawie czasu przelotu cząstki przez przestrzeń pomiarową. Uzyskane, z torów pomiarowych, sygnały przetwarzane są na bieżąco przez 12 bitowy blok pomiarowy [8] przetwarzający sygnał analogowy na cyfrowy z częstotliwością 12 MHz. Uzyskane wyniki przesyłane są następnie do komputera. Po opuszczeniu toru pomiarowego mierzony materiał osadza się w filtrze [9].

Rys. 1 Analizator sfera 3D

 

METODA POMIARU

 

Analizator sfera 3D wykorzystuje do pomiaru opracowany w firmie KAMIKA system IPS (Infrared Particle Sizer). System ten bazuje na zakłócaniu/rozpraszaniu strumienia światła podczerwonego przez przelatującą, w strefie pomiaru cząstkę. Generowany wówczas impuls elektryczny jest przeliczany z jednostek elektrycznych na metryczne dając w efekcie wymiar przelatującej cząstki, a dokładnie zmierzona ilość impulsów przeliczna jest na ilość zmierzonych cząstek.

Otrzymany rozkładu ilości i wielkości cząstek można porównać  z rzeczywistymi pomiarami według sit mechanicznych.

Kalibracja przyrządu jest dostrajana do do każdego materiału.

 

ANALIZA SITOWA

 

Po pomiarze automatycznie przeliczany jest otrzymany wynik na sita wprowadzane przez Użytkownika. Możliwe jest wprowadzenie do programu od 2 do 11 szt. sit.

Poniżej zaprezentowano przykładowy zestaw sit i wprowadzone dla każdego z nich STANDARDY.

Obok przedstawiono przykładowy rozkład granulometryczny mikrosfer zmierzonych przy użyciu analizatora sfera 3D.

 

SITA i Standard (MIN-MAX)

 

 

 

WYNIKI - tabela

 

WYNIKI - wykres

 

Dodatkowo szczegółowe informacje na temat rozkładu granulometrycznego:

 

Ilość -

to ilość zliczonych cząstek ogółem

Czas -

to czas trwania pomiaru

Dn -

to czas trwania pomiaru

Ds -

średnia wielkość cząstki w rozkładzie ilościowym [μm]

Dv -

średnia wielkość cząstki w rozkładzie objętościowym [μm]

Da [3,2] –

średnia Sautera [μm] (średnia objętościowa, średnica zważona wg powierzchni)

V.w.M D[4,3] -

średnia de Brouckere [μm]

D10 -

średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 10%

D50 -

średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 50% (mediana)

D90 -

średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 90%

D100 -

średnia średnica cząstek których udział jest 100%

Moda D -

moda (średnica cząstek najbardziej znaczących w rozkładzie ilościowym)

Percentyl -

wielkość matematyczna, która mówi jaki procent cząstek w określonym rozkładzie jest poniżej danej wartości, np. 25 % rozkładu ilościowego jest poniżej 133,6μm.

 

 

CHARAKTERYSTYKA

 

 zakres pomiarowy

0,5 - 2000 µm 

 ilość klas pomiarowych

 256

 źródło światła

 dioda Infrared lub dioda laserowa

 zasilanie

 230 V AC, 50 Hz

 temperatura użytkowania

 278 do 313 K

 ciężar analizatora

 12 kg

 rejestracja i archiwizacja wyników pomiarów

 automatyczna

 sposób komunikacji z komputerem

 port USB 2.0

 

KOMPLETACJA

 

- Analizator sfera 3D

  • Główny moduł elektroniczny łącznie z kartą przetwornika A/C IPS USB High Speed

  • Dozownik ultradźwiękowy

  • Dozownik automatyczny (opcja)

- System automatycznej rejestracji wyników pomiarów (notebook lub PC)

- Oprogramowanie pracujące pod systemem Windows

- Wyposażenie dodatkowe:

  • Walizka transportowa

  • Czytnik kodów kreskowych (opcja)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Galeria zdjęć

Zapytanie o przyrząd

Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!
  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 1 - 15 mm 

 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 1- 30 mm 

 

01 lutego 2018