PRZEZNACZENIE
BUDOWA ANALIZATORA
Schemat analizatora sfera 3D przedstawiono na Rys. 1. Mierzoną substancję umieszcza się w dozowniku [1]. Występuje on w dwóch wersjach: ultradźwiękowej i automatycznej. Rodzaj dozownika dobieramy do wielkości i rodzaju mierzonych cząstek. W wyniku podciśnienia wytworzonego przez sprężarkę [2], mikrosfery są zasysane z dozownika do rurki wlotowej [3]. Program pomiarowy steruje prędkością sprężarki w taki sposób, że cząstki zasysane są pojedynczo. Bezpośrednio za wylotem z rurki [3] znajduje się czujnik cząstek [4]. W czujniku tym znajdują się dwa niezależnie, prostopadłe do siebie tory pomiarowe [5, 6]. Miejsce ich krzyżowania się stanowi przestrzeń pomiarową [7]. Przelatująca przez przestrzeń pomiarową cząstka mierzona jest w dwóch prostopadłych kierunkach przez tory [5 i 6], natomiast trzeci wymiar jest wyznaczany na podstawie czasu przelotu cząstki przez przestrzeń pomiarową. Uzyskane, z torów pomiarowych, sygnały przetwarzane są na bieżąco przez 12 bitowy blok pomiarowy [8] przetwarzający sygnał analogowy na cyfrowy z częstotliwością 12 MHz. Uzyskane wyniki przesyłane są następnie do komputera. Po opuszczeniu toru pomiarowego mierzony materiał osadza się w filtrze [9].
Analizator sfera 3D
METODA POMIARU
Analizator sfera 3D wykorzystuje do pomiaru opracowany w firmie KAMIKA system IPS (Infrared Particle Sizer). System ten bazuje na zakłócaniu/rozpraszaniu strumienia światła podczerwonego przez przelatującą, w strefie pomiaru cząstkę. Generowany wówczas impuls elektryczny jest przeliczany z jednostek elektrycznych na metryczne dając w efekcie wymiar przelatującej cząstki, a dokładnie zmierzona ilość impulsów przeliczna jest na ilość zmierzonych cząstek.
Otrzymany rozkładu ilości i wielkości cząstek można porównać z rzeczywistymi pomiarami według sit mechanicznych.
Kalibracja przyrządu jest dostrajana do do każdego materiału.
ANALIZA SITOWA
Po pomiarze automatycznie przeliczany jest otrzymany wynik na sita wprowadzane przez Użytkownika. Możliwe jest wprowadzenie do programu od 2 do 11 szt. sit.
Poniżej zaprezentowano przykładowy zestaw sit i wprowadzone dla każdego z nich STANDARDY.
Obok przedstawiono przykładowy rozkład granulometryczny mikrosfer zmierzonych przy użyciu analizatora sfera 3D.
Dodatkowo szczegółowe informacje na temat rozkładu granulometrycznego:
Ilość - |
to ilość zliczonych cząstek ogółem |
Czas - |
to czas trwania pomiaru |
Dn - |
to czas trwania pomiaru |
Ds - |
średnia wielkość cząstki w rozkładzie ilościowym [μm] |
Dv - |
średnia wielkość cząstki w rozkładzie objętościowym [μm] |
Da [3,2] – |
średnia Sautera [μm] (średnia objętościowa, średnica zważona wg powierzchni) |
V.w.M D[4,3] - |
średnia de Brouckere [μm] |
D10 - |
średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 10% |
D50 - |
średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 50% (mediana) |
D90 - |
średnia średnica cząstek których udział jest mniejszy niż 90% |
D100 - |
średnia średnica cząstek których udział jest 100% |
Moda D - |
moda (średnica cząstek najbardziej znaczących w rozkładzie ilościowym) |
Percentyl - |
wielkość matematyczna, która mówi jaki procent cząstek w określonym rozkładzie jest poniżej danej wartości, np. 25 % rozkładu ilościowego jest poniżej 133,6μm. |
CHARAKTERYSTYKA
zakres pomiarowy |
0,5 - 2000 µm |
ilość klas pomiarowych |
256 |
źródło światła |
dioda Infrared lub dioda laserowa |
zasilanie |
230 V AC, 50 Hz |
temperatura użytkowania |
278 do 313 K |
ciężar analizatora |
12 kg |
rejestracja i archiwizacja wyników pomiarów |
automatyczna |
sposób komunikacji z komputerem |
port USB 2.0 |
KOMPLETACJA
- Analizator sfera 3D |
|
|
|
- System automatycznej rejestracji wyników pomiarów (notebook lub PC) |
- Oprogramowanie pracujące pod systemem Windows |
- Wyposażenie dodatkowe: |
|
|
|
Wszelkie prawa zastrzeżone KAMIKA 2024, Projekt strony internetowej JL
+48 (22) 666 93 32
+48 (22) 666 85 68
ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa