Analizator mini3D
Analizator IPS KF - Pyłomierz
Analizator IPS BP
Analizator P_AWK 3D
Analizator mini
Analizator 2DiSA
Analiaztor IPS P - Pyłomierz
Analizator IPS K - Pyłomierz
Analizator IPS GA
Uśredniacz
Analizator IPS T
Analizator AWK D
Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia
Analizator IPS Q
Analizator IPS SAM
Stoisko do badania sprawności filtrów
Analizator AWK C
Analizator IPS U
Analizator AWK 3D
Przyrządy
Jakość zgodna z ISO 9001
Co potrzebujesz zmierzyć?
Media społecznościowe
Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru
Projekty unijne
Infolinia: +48 22 666 93 32
Wybierz język:
Nieograniczony
KAMIKA Instruments
zakres pomiarowy
|
Targi SyMas2017 - BĘDZIEMY TAM!
W dniach 18-19 października 2017 roku zapraszamy Państwa do spotkania się z nami na 9. Międzynarodowych Targach Obróbki, Magazynowania i Transportu Materiałów Sypkich i Masowych - SyMas 2017, które odbędą się w Krakowie.
Będziemy czekać na Państwa na stoisku C17.
Targi odbędą się w Międzynarodowym Centrum Targowo-Kongresowym EXPO Kraków,
ul. Galicyjska 9, Kraków.
UWAGA!
Wstęp na targi jest bezpłatny dla gości branżowych po rejestracji ONLINE,
rejestracji można dokonać na TEJ STRONIE
Można również zarejestrować się na Targach kupując jednocześnie bilet wstępu.
PROJEKT UNIJNY - Zakończenie II etapu!
Z przyjemnością informujemy, że w sierpniu zakończyliśmy realizację drugiego etapu projektu pt.: „Innowacyjny analizator cząstek mini 3D”, który realizujemy dzięki współfinansowaniu ze środków Unii Europejskiej - Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój (umowa nr. POIR.01.01.01-00-0459/15-05 – tzw. „szybka ścieżka”).
Celem realizowanego przez nas projektu jest opracowanie urządzenia mini 3D do określenia kształtu i wielkości cząstek od 500 nm do 2000 μm w powietrzu i od 200 nm do 600 μm w cieczy.
... czytaj więcej
PUBLIKACJE
Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż |
||||
ABSTRAKT
Dla szybkiego automatycznego pomiaru wymiarów i kształtu ziarna można je mierzyć w czasie swobodnego spadania ziarna przez dwukierunkowe pole pomiarowe. W czasie spadania przekrój ziarna może być wielokrotnie mierzony z częstotliwością 500 kHz. Ilość pomiarów przy częstotliwości skanowania 500 kHz umożliwia określenie trzeciego wymiaru. ...
. . . czytaj więcej
zapoznaj się z naszymi publikacjami
|
KAMIKA Instruments |
|||
|
Jeśli nie chcesz już otrzymywać od na e-maili, napisz do nasz na adres: sales@kamika.pl