PRZEZNACZENIE
METODA POMIARU
Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w czujniku jest rozpraszany przez przelatujące przez strefę pomiaru kruszywo. Układ pomiarowy składa się z wielokanałowego układu optycznego, który umożliwia przestrzenny pomiar cząstki w trzech kierunkach. Każdemu ziarnu odpowiada impuls elektryczny proporcjonalny do wielkości ziarna. Zbiór ziaren jest pierwotnie mierzony na 4096 klas wymiarowych i następnie przekształcony (kalibrowany) na 256 klas dostępnych dla użytkownika. Metoda ta charakteryzuje się olbrzymią powierzchnią pomiarową „s” x 300 mm o jednakowej czułości i specjalnym dozownikiem mogącym pomieścić kilkanaście kilogramów materiału mineralnego (MM). Wymiar „s” powierzchni pomiarowej zależy od rodzaju zastosowanej optyki i może wynosić 110, 160 lub 190 mm.
SCHEMAT POMIARU
Analizator AWK B wyposażony jest w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączone są: skrzynka sterowania elektrycznego [2], czujnik pomiarowy [3] i komputer typu desktop [4] ze specjalnym interface. Całość sterowna jest z klawiatury [5]. Po zakończonym pomiarze, który jest automatycznie, zapisany w pamięci komputera ustawienia analizatora wracają do stanu początkowego.
Część robocza analizatora zbudowana jest w postaci wózka, gdzie na sztywnej ramie ze stali nierdzewnej [6] zawieszona jest skrzynka sterująca [2] wyposażona w siłownik elektryczny [7]. Siłownik [7] za pomocą popychacza [8] pochyla rynnę [9] zawieszoną na ułożyskowanym pręcie [10]. Na ramie [6] na dwóch podporach leży czujnik pomiarowy [3] z wlotem [11] o przekroju ok. 200 × 300 mm. Rynna [9] jest wyposażona dodatkowo w wibrator [12]. Podczas procesu pomiarowego wibrator [12] stopniowo osiąga drgania maksymalne i następnie rynna [9] zostaje pochylona do położenia dolnego. Wówczas cały MM zsuwa się z rynny [9] przez wlot [11] pod analizator. Intensywność zsuwania MM jest regulowana za pomocą komputera [4].
Schemat sondy pomiarowej analizatora AWK B
CHARAKTERYSTYKA
- | zakres pomiarowy | 1 - 130 mm |
- | ilość klas pomiarowych | 256 |
- | źródło światła | dioda Infrared lub dioda laserowa |
- | zasilanie | 230 V AC, 50 Hz |
- | temperatura użytkowania | 278 do 313 K |
- | wymiary czujnika pomiarowego | 1500*1020*400 mm |
KOMPLETACJA
elektroniczny blok pomiarowy AWK | |
- | czujnik pomiarowy z systemem dozującym |
- | skrzynka sterowana elektrycznego |
- | karta A/C |
- | komputer typu notebook |
- | zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows |
- | zestaw kabli |
Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.
DOKUMENTY
Przedsiębiorca uzyskał subwencję finansową w ramach programu rządowego "Tarcza Finansowa 2.0 Polskiego Funduszu Rozwoju dla Mikro, Małych i Średnich Firm"' udzieloną przez PFR S.A
Wszelkie prawa zastrzeżone KAMIKA 2024, Projekt strony internetowej JL
+48 (22) 666 93 32
+48 (22) 666 85 68
ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa