Analizator AWK 3D
PRZEZNACZENIE
-
Pomiar trójwymiarowy.
-
Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0,5 do 31,5 mm.
-
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
-
Do optymalizacji procesu mielenia czy doboru mieszanek.
-
Do określania kształtu ziaren.
METODA POMIARU
Przyrząd składa się z dwóch skrzyżowanych pod kątem prostym optycznych przyrządów pomiarowych, które jednocześnie mierzą przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Taki przyrząd można było zbudować dzięki innowacyjnej technologii pomiarowej i cyfrowemu przetwarzaniu wyników pomiarów optycznych oferowanych przez firmę KAMIKA. Strumień promieniowania podczerwonego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze cząstek jest kalibrowany (przeliczany) na dowolną ilość klas wymiarowych.
BUDOWA ANALIZATORA
Analizator AWK 3D jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy, do którego podłączone są dwa niezależne tory pomiarowe wielkości cząstek, łącznie z licznikiem pomiarów, co daje możliwość określania kształtu cząstek w trzech wymiarach.
Analizator jest podłączony do komputera przez złącze RJ-45. Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera.
Układ dozujący [2] składa się z modułu dozującego z drgającą rynną. Drgania powoduje wirujący silniczek elektryczny. Do rynny cząstki podawane są z lejka zasypowego [3].
Dozownik przesypuje cząstki z lejka przez czujnik pomiarowy cząstek do szuflady [4] znajdującej się pod sondą pomiarową [1]. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych.
Wykres analizy sitowej, pomiar, wartość referencyjna, zakres pomiarowy min-max
Porównanie wyników analizy sitowej
Analiza kształtu cząstek - wyniki wg klasyfikacji Zingg. Obliczenie udziału kul, walców, dysków i płytek
CHARAKTERYSTYKA
| - |
zakres pomiarowy |
0,5 - 31,5 mm |
| - |
ilość klas pomiarowych |
256 |
| - |
źródło światła |
dioda Infrared |
| - |
zasilanie |
230 V AC, 50 Hz |
| - |
temperatura użytkowania |
253 do 400 K |
| - |
powierzchnia pomiarowa |
3 600 mm2 |
KOMPLETACJA
|
|
|
| - |
analizator z sondą z kominkiem |
| - |
dozownik z lejkiem |
| - |
zestaw kabli |
| - |
system rejestracji danych (typu komputer) |
| - |
zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows |
Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.
DOKUMENTY
Wszelkie prawa zastrzeżone KAMIKA 2024, Projekt strony internetowej JL
+48 (22) 666 93 32
+48 (22) 666 85 68
ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa