PRZEZNACZENIE
Pomiar trójwymiarowy.
Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0.5 do 32 mm.
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
Do optymalizacji procesu mielenia czy doboru mieszanek.
Do określania kształtu ziaren.
METODA POMIARU
Przyrząd składa się z dwóch skrzyżowanych pod kątem prostym optycznych przyrządów pomiarowych, które jednocześnie mierzą przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Taki przyrząd można było zbudować dzięki innowacyjnej technologii pomiarowej i cyfrowemu przetwarzaniu wyników pomiarów optycznych oferowanych przez firmę KAMIKA.Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na 256 klas wymiarowych.
BUDOWA ANALIZATORA
Analizator AWK 3D jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [3], do którego podłączone są dwa niezależne tory pomiarowe wielkości cząstek, łącznie z licznikiem pomiarów, co daje możliwość określania kształtu cząstek w trzech wymiarach.
Elektroniczny blok pomiarowy [3] jest podłączony do komputera [1].Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera.
Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5]. Drgania powoduje wirujący silniczek elektryczny oraz wspomaganie ultradźwiękowe.
Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.
Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] przez czujnik pomiarowy cząstek [7] do pojemnika znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych.
Schemat analizatora AWK 3D
CHARAKTERYSTYKA
- |
zakres pomiarowy |
0,5 - 32 mm |
- |
ilość klas pomiarowych |
256 |
- |
źródło światła |
dioda Infrared lub dioda laserowa |
- |
zasilanie |
230 V AC, 50 Hz |
- |
temperatura użytkowania |
253 do 400 K |
- |
powierzchnia pomiarowa |
3 600 mm2 |
KOMPLETACJA
- |
elektroniczny blok pomiarowy AWK |
- |
sonda z kominkiem |
- |
szafka AWK ze wspomaganiem aerodynamicznym |
- |
dozownik z lejkiem |
- |
zestaw kabli |
- |
komputer typu notebook |
- |
zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows |
Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.
DOKUMENTY
Przedsiębiorca uzyskał subwencję finansową w ramach programu rządowego "Tarcza Finansowa 2.0 Polskiego Funduszu Rozwoju dla Mikro, Małych i Średnich Firm"' udzieloną przez PFR S.A
Wszelkie prawa zastrzeżone KAMIKA 2024, Projekt strony internetowej JL
+48 (22) 666 93 32
+48 (22) 666 85 68
ul. A. Kocjana 15
01-473 Warszawa