11 grudnia 2015
Zapytanie ofertowe nr 9/mini/2015

Zarząd KAMIKA Instruments (Zamawiajacy) w ramach projektu „Innowacyjny analizator cząstek mini 3D”, który Zamawiający realizuje na podstawie umowy z Narodowym Centrum Badań i Rozwoju nr POIR.01.01.01-00-0459/15-00, finansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014-2020, Działanie 1.1: Projekty B+R przedsiębiorstw, Poddziałanie 1.1.1: Badania przemysłowe i prace rozwojowe realizowane przez przedsiębiorstwa  (tzw. Szybka ścieżka)  

 

 

zaprasza do składania ofert  

na Specjalistę ds. norm
(kod  73200000-4)

 

Specyfikacja zamówienia oraz szczegółowe warunki konkursu ofert  znajdują się w zakładce Zapytania ofertowe na stronie internetowej KAMIKA Instruments oraz w oddziale Zamawiającego w miejscu publicznie dostępnym.  
   
Termin składania ofert upływa w dniu 19 grudnia 2015 roku o godzinie 10:00.  
   
   
Warszawa, 11 grudnia 2015  
   
KAMIKA Instruments  
Kontakt:  
T: +48 22 666 85 68  
F: +48 22 666 93 32  
E: zamowienia (at) kamika.pl
 
 
Wszystkie aktualne informacje na temat zapytań ofertowych można znaleźć w zakładce   Zapytania ofertowe .
  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 1 - 15 mm 

 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 1- 30 mm