23 listopada 2015
Zapytanie ofertowe nr 2b/mini/2015
Zarząd KAMIKA Instruments (Zamawiajacy) w ramach projektu „Innowacyjny analizator cząstek mini 3D”, który Zamawiający realizuje na podstawie umowy z Narodowym Centrum Badań i Rozwoju nr POIR.01.01.01-00-0459/15-00, finansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014-2020, Działanie 1.1: Projekty B+R przedsiębiorstw, Poddziałanie 1.1.1: Badania przemysłowe i prace rozwojowe realizowane przez przedsiębiorstwa (tzw. Szybka ścieżka)
zaprasza do składania ofert na
prace badawcze w zakresie matematycznego określenia różnych kształtów
materiałów uziarnionych przy pomocy pomiarów trójwymiarowych mikrocząstek.
materiałów uziarnionych przy pomocy pomiarów trójwymiarowych mikrocząstek.
Specyfikacja techniczna zamówienia oraz szczegółowe warunki konkursu ofert znajdują się w załączonym Zapytaniu ofertowym oraz są dostępne na stronie internetowej KAMIKA Instruments oraz w oddziale Zamawiającego w miejscu publicznie dostępnym.
Termin składania ofert upływa w dniu 1 grudnia 2015 roku o godzinie 10:00.
Warszawa, 23 listopada 2015
KAMIKA Instruments
Kontakt:
T: +48 22 666 85 68
F: +48 22 666 93 32
E: zamowienia (at) kamika.pl
Wszystkie aktualne informacje na temat zapytań ofertowych można znaleźć w zakładce
Zapytania ofertowe
zakres pomiarowy
KAMIKA Instruments
Nieograniczony
Wybierz język:
Infolinia: +48 22 666 93 32
Projekty unijne
Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru
Media społecznościowe
Co potrzebujesz zmierzyć?
Jakość zgodna z ISO 9001
Przyrządy
Analizator mini3D
zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm
Analizator IPS KF - Pyłomierz
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator IPS BP
zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm
Analizator P_AWK 3D
zakres pomiarowy: 1 - 15 mm
Analizator mini
zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm
Analiaztor IPS P - Pyłomierz
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator IPS K - Pyłomierz
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator IPS GA
zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm
Uśredniacz
Dla cząstek do 2 mm
Analizator IPS T
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator AWK D
zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm
Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia
zakres pomiarowy: 1 - 130 mm
Analizator IPS Q
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator IPS SAM
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Stoisko do badania sprawności filtrów
zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm
Analizator AWK C
zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm
Analizator AWK 3D
zakres pomiarowy: 1- 30 mm
