05 grudnia 2016

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres pomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

Poniżej znajdą Państwo podział urządzeń ze względu na zakresy pomiarowe.

 

Kolorami zaznaczono podział urządzeń ze względu na rodzaj pomiaru.

 

          

 

pomiar zawartości PM (emisja, imisja)

                  

 

pomiar aerosoli i zawieszonych kropel

 

 

pomiar uziarnienia cząstek - "na sucho"

 

 

pomiar kształtu i uziarnienia cząstek

 

 

pomiar granulacji cząstek - w wodzie i roztworach wodnych

 

 

pozostałe

 

 

wyposażenie dodatkowe

 

ZAKRES:

 

  

URZĄDZENIA:

  

 

 

 

  

 

  

 

0,2 um - 600 um

IPS L

  

 IPS LCW

  

 

 

 

 

 

0,4 μm - 300 μm

IPS SAM

  

IPS Q

  

IPS GA

 

 

 

  

 

  

 

IPS K

  

IPS KF

  

IPS P

 

 

 

  

 

  

 

IPS CR

  

IPS W

  

IPS T

 

 

 

0,5 μm - 600 μm

IPS U

  

 

  

 
       

 

0,5 μm - 2 mm

 IPS UA   IPS 2DiSA    
     

 

0,5 μm - 3  mm

mini 3D

  

 

  

 
       

 

2 μm - 2 mm

 

 IPS BP   IPS A   UŚREDNIACZ

   

 

50 μm - 4 mm

 AWK D        
       

 

0,2 mm - 15 mm

 P_AWK 3D        
       

 

0,2 mm - 31,5 mm

 AWK 3D        
       

 

0,3 mm  31,5 mm

 AWK C        
       

 

1 mm - 130 mm

 AWK B        
       

 

 

ZAKRESY POMIAROWE

PRZYRZĄDY