Analizator mini3D
Analizator IPS KF - Pyłomierz
Analizator IPS BP
Analizator P_AWK 3D
Analizator mini
Analizator 2DiSA
Analiaztor IPS P - Pyłomierz
Analizator IPS K - Pyłomierz
Analizator IPS GA
Uśredniacz
Analizator IPS T
Analizator AWK D
Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia
Analizator IPS Q
Analizator IPS SAM
Stoisko do badania sprawności filtrów
Analizator AWK C
Analizator IPS U
Analizator AWK 3D
Przyrządy
Jakość zgodna z ISO 9001
Co potrzebujesz zmierzyć?
Media społecznościowe
Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru
Projekty unijne
Infolinia: +48 22 666 93 32
Wybierz język:
Nieograniczony
KAMIKA Instruments
zakres pomiarowy
System do pomiaru uziarnienia materiału mineralnego
Przeznaczenie:
Do określania w warunkach laboratoryjnych krzywej uziarnienia materiałów mineralnych
w zakresie od 0,0002 do 130 mm.
Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji dowolnych parametrów.
Założenia do systemu pomiarowego:
Podstawową kalibracją elektronicznych urządzeń pomiarowych jest kalibracja sitowa, wzorcowana na sitach mechanicznych użytkownika. Po przeprowadzeniu pomiaru, wynik automatycznie jest zapamiętywany w komputerze w jednostkach elektrycznych i rozkład uziarnienia może być przeliczony według dowolnej kalibracji lub zestawu sit. Elektroniczne urządzenia pomiarowe mogą określać współczynnik kształtu ziaren. Jest to stosunek maksymalnego wymiaru ziarna do minimalnego.
Współczynnik ten zawsze jest większy od jedności, a dla kuli równa się 1.
Pomiar uziarnienia materiałów mineralnych (MM) może obecnie bazować na wielu różnych
elektronicznych urządzeniach pomiarowych, które mają ten sam rodzaj kalibracji i sposób pomiaru.
Urządzenia te mogą być ze sobą połączone w system pomiarowy przedstawiony na rysunku.
Wszystkie analizatory wielkości cząstek i inne przyrządy pomiarowe połączone są przez FES (Fast Ethernet Switch) do serwera. Wyniki pomiarów zapamiętywane są równolegle w komputerze każdego urządzenia pomiarowego i na serwerze.
Przy każdym urządzeniu można opracować krzywą uziarnienia MM ściągając wyniki pomiarów
pozostałych urządzeń systemów z innych komputerów przez sieć.
Do sieci można przyłączyć następujące urządzenia:
1. IPS L dla zakresu od 0,0002 do 0,5 mm według wymiaru wielkości oczek sita;
2. IPS A/U dla zakresu 0,0005 – 2 mm według wymiaru wielkości oczka sita;
3. AWK 3D lub AWK C dla zakreso 0,2 - 31,5 mm według wymiaru wielkości oczka sita;
4. AWK B dla zakresu 1 – 130 mm według wymiaru wielkości oczka sita.
Zgodnie z normą PN – 75B – 04482 przygotowuje się materiał przepłukany na jednym sicie 0,075 mm
w celu odseparowania drobnych cząstek. Po zważeniu rozdzielonych frakcji i przygotowaniu zawiesiny drobnych cząstek w wodzie, można przystąpić do pomiaru za pomocą przyrządu IPS L. Pozostałą frakcję można pomierzyć na analizatorach IPS U i AWK. Pomiary ziarnistości frakcji z uwzględnieniem wagi frakcji sumuje się w specjalnym programie komputerowym, który może określić charakter uziarnienia gruntu. Czas wykonania pomiaru przy użyciu wszystkich urządzeń wynosi około jednej godziny.
Sposób pomiaru:
Sposób pomiaru uziarnienia MM przy pomocy IPS U i AWK przedstawia się następująco:
Ponadto system umożliwia:
Sprawdzanie uziarnienia różnych mieszanek MM jeszcze przed ich wymieszaniem w różnych proporcjach.
Optymalizację rozkładu uziarnienia w funkcji dowolnych parametrów, które mają wpływ na dany skład ziarnowy MM.
Kompletacja:
W systemie MM może pracować każdy z analizatorów produkcji KAMIKA Instruments.
Analizatory do systemu można zestawiać dowolnie – zgodnie z preferencjami i możliwościami użytkownika.
Ponieważ system zbudowany jest blokowo kompletacja pełnego systemu może przebiegać etapami.
Aby w pełni wykorzystać możliwości systemu, przy zakupie 2 analizatorów potrzeba jest sieć wraz z serwerem. Szczegółowy opis oprogramowania zawarty jest w naszych publikacjach.
Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe.
Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.