Dla szybkiego automatycznego pomiaru wymiarów i kształtu ziarna można je mierzyć w czasie swobodnego spadania ziarna przez dwukierunkowe pole pomiarowe. W czasie spadania przekrój ziarna może być wielokrotnie mierzony z częstotliwością 500 kHz. Ilość pomiarów przy częstotliwości skanowania 500kHz umożliwia określenie trzeciego wymiaru. Spadające ziarno musi być odpowiednio usytuowane w przestrzeni pomiarowej, tak żeby jego ruch odbywał się wzdłuż jego najdłuższej osi. Taki ruch ziarna umożliwia specjalna, paraboliczna, drgająca rynna. Kształt ziarna jest obrabiany cyfrowo z rozdzielczością 128 bitów, w każdym z trzech kierunków, co daje możliwości analizy ponad 2 milionów różnych kształtów ziaren. Wyniki pomiarów różnych zbóż można ze sobą porównać.
Więcej na temat analizatora AWK 3D umożliwiającego automatyzację pomiaru wymiarów i analizę kształtów ziaren zbóż przeczytasz TUTAJ
zakres pomiarowy
KAMIKA Instruments
Nieograniczony
Wybierz język:
Infolinia: +48 22 666 93 32
Projekty unijne
Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru
Media społecznościowe
Co potrzebujesz zmierzyć?
Jakość zgodna z ISO 9001
Przyrządy
Analizator mini3D
Analizator IPS KF - Pyłomierz
Analizator IPS BP
Analizator P_AWK 3D
Analizator mini
Analiaztor IPS P - Pyłomierz
Analizator IPS K - Pyłomierz
Analizator IPS GA
Uśredniacz
Analizator IPS T
Analizator AWK D
Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia
Analizator IPS Q
Analizator IPS SAM
Stoisko do badania sprawności filtrów
Analizator AWK C
Analizator AWK 3D