18 lutego 2016
Pomiar wymiarów i automatyczna analiza kształtów ziaren zbóż

Dla szybkiego automatycznego pomiaru wymiarów i kształtu ziarna można je mierzyć w czasie swobodnego spadania ziarna przez dwukierunkowe pole pomiarowe. W czasie spadania przekrój ziarna może być wielokrotnie mierzony z częstotliwością 500 kHz. Ilość pomiarów przy częstotliwości skanowania 500kHz umożliwia określenie trzeciego wymiaru. Spadające ziarno musi być odpowiednio usytuowane w przestrzeni pomiarowej, tak żeby jego ruch odbywał się wzdłuż jego najdłuższej osi. Taki ruch ziarna umożliwia specjalna, paraboliczna, drgająca rynna. Kształt ziarna jest obrabiany cyfrowo z rozdzielczością 128 bitów, w każdym z trzech kierunków, co daje możliwości analizy ponad 2 milionów różnych kształtów ziaren. Wyniki pomiarów różnych zbóż można ze sobą porównać.

czytaj dalej

 

Więcej na temat analizatora AWK 3D umożliwiającego automatyzację pomiaru wymiarów i analizę kształtów ziaren zbóż przeczytasz TUTAJ

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 1 - 15 mm 

 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 1- 30 mm