01 lipca 2016
IPS P – przyrząd do badania imisji wg nowej metody pomiaru 

 

Dotychczasowe poborniki pyłu w powietrzu, wykonane według normy PN-EN 12341, mają bardzo ciekawą charakterystykę pomiarową, według której zawartość pyłu w atmosferze jest w pewnym stopniu odwrotnie proporcjonalna do prędkości wiatru. 

 

Na podstawie własnych obserwacji, autorzy zbudowali oryginalny pobornik pyłu, który ma inną charakterystykę pomiarową. Może być ona przydatna szczególnie podczas pomiarów w obecności wiatru. Tematem referatu jest opis urządzenia IPS P do izokinetycznego pomiaru imisji. W urządzeniu zastosowano optyczno-elektroniczny licznik cząstek, który umożliwia śledzenie zanieczyszczenia powietrza „on-line”. Opracowana metoda pomiaru umożliwia jednoczenie śledzenie innych parametrów, takich jak kierunek i prędkość wiatru, wilgotność i temperaturę powietrza. Przyrząd może być przystosowany do pojedynczych pomiarów grawimetrycznych za pomocą filtra Φ = 50 oraz do automatycznego, bezobsługowego monitoringu powietrza, gdzie można w sposób  ciągły określać wszelkie frakcje pyłu zawieszonego. 

czytaj więcej

 

 

Więcej na temat analizatora IPS P umożliwiającego automatyzację pomiaru wymiarów i analizę kształtów ziaren zbóż przeczytasz TUTAJ

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 1 - 15 mm 

 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 1- 30 mm