11 marca 2016
EUROLAB 2016 - 12-14 kwietnia

 

Zapraszamy na EUROLAB 2016.
XVIII Międzynarodowe Targi Analityki i Technik Pomiarowych EUROLAB 2016 odbędą się w dniach
12-14 kwietnia 2016 w Warszawskim Centrum Targowo - Kongresowym MT Polska przy ul. Marsa 56c. Czekamy na stoisku C1a.
 
Na targach po zaprezentujemy analizator mini 3D, przyrząd do trójwymiarowego pomiaru kształtu i wielkości cząstek mikronowych
 
Przedstawimy także:

  • Analizatory uziarnienia – od 0,2 µm do 130 mm, 
  • Możliwości optyczno-elektronicznego pomiaru 2D i 3D – dwóch lub trzech wymiarów dla analizy kształtu cząstek, 
  • Możliwości określania powierzchni właściwej,  
  • Przyrządy do POMIARÓW ON-LINE, bezpośrednio na linii produkcyjnej,

  • Aparaturę do pomiaru pyłów zawieszonych (PM) - bezpośredni pomiar emisji i imisji, określanie zawartości frakcji PM10; 2.5 i in..
  • Przyrządy do kontroli rozkładu wielkości cząstek aerozoli.
  • System do ciągłego pomiaru uziarnienia pyłu przepływającego w rurze transportowej (IPS BP)

 
Godziny otwarcia targów

  • 12 i 13 kwietnia (wtorek i środa): 9.00-16.00
  • 14 kwietnia (czwartek): 9.00-15.00

 
Wstęp na Targi EuroLab jest bezpłatny po dokonaniu OBOWIĄZKOWEJ rejestracji na miejscu lub on-line
 

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 1 - 15 mm 

 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 1- 30 mm