18 grudnia 2015

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!

Zapytanie o przyrząd

Galeria zdjęć

MOŻLIWOŚCI URZĄDZENIA

 

  • bieżący pomiar ilości i wielkości cząstek według analizy sitowej 

  • pobór próby ziaren od 2 do 2 000 µm, bez użycia sondy wewnątrz rury

  • zawrót materiału do rury transportowej po pomiarze

  • nieograniczony czasowo monitoring, pełna kontrola uziarnienia 24/7

  • obliczanie powierzchni właściwej (przy znajomości mikrostruktury) 

  • natychmiastowe wykrywanie i reagowanie na problemy w procesie produkcyjnym 

  • sterowanie urządzeniami kontrolowanymi poprzez sygnał do automatyk

 

 

METODA POMIARU

 

  • pomiar  optoelektroniczny, metoda rozpraszania promieniowania

  • pobór próby izokinetyczny, pomiar cząstek w powietrzu

  • pomiar wstępny na 4096 klas wymiarowych

  • pomiar kalibrowany na 256 równych klas wymiarowych lub 11 dowolnych klas ustalanych przez użytkownika

  • pełna symulacja analizy sitowej wg metody Elsieve (patent nr  205738)

  • analiza koincydencji 

  • częstość skanowania cząstek 500kHz

  • czujnik IPS zgodny z normą ISO 13322-2:2006

  • powtarzalność i dokładność pomiarów

 

 

SPOSÓB POMIARU

 

Przepływ pomiarowy przez przyrząd jest sprzężony izokinetycznie z przepływem cząstek przez rurę transportową. Otwór wylotowy ziaren do przyrządu umiejscowiony jest tam, gdzie najwięcej oddziaływuje  siła odśrodkowa. Cząstki "jak woda wypływają z rury". Ze względu na izokinetyczność nie wolno ich hamować, dopiero w dyfuzorze dobiera się odpowiednie przekroje dla odbioru cząstek przez sondę czujnika, tak aby w czujniku nie było nadmiernej koincydencji. Wynik badań uzyskuje się natychmiast po pomiarze, z dokładności nie gorszą niż wynik pomiaru wg sit laboratoryjnych. 

 

 

DOKUMENTY

 

Analizator IPS BP - ulotka
Publikacja : "System IPS BP do ciągłego pomiaru uziarnienia w rurze transportowej."

 

 

 

 

Analizator IPS BP

PRZYRZĄDY