Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
27 listopada 2014
Geologia

W chwili obecnej tradycyjne techniki pomiarowe w laboratoiach geologicznych wypierane są przez nowczesne, elektroniczne analizatory, które pozwalają na poprawienie dokładności i kompleksowości badań przy jednoczesnym skróceniu czasu ich przeprowadzania. 

 

Pomiar elektroniczny może wyeliminować większość błędów ludzkich, a w przypadku analizy sitowej niweluje także wpływ rozkalibrowania sit oraz wpływ zmian rozkładu ziarnistości na pomiar powierzchni właściwej zastępując dwie metody pomiarowe jednocześnie.

 

IPS L     
 

Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych).
Pozwala na zastąpienie żmudnej analizy areometrycznej gruntu pomiarem elektronicznym.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm

     
IPS U    

 

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej.
Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm

     
IPS A    
 

Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą. 
Pomiar uziarnienia frakcji spoistej
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm

     
AWK 3D    
 

Przyrząd do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków).
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
Do trójwymiarowego określania kształtu ziaren
Zakres pomiarowy 0,2 - 31,5 mm

     
AWK B    
 

Przyrząd może być wykonany w wersji trójwymiarowej, wówczas ma takie same możliwości jak 
Służy do określania kształtu ziaren.
Zastępuje pomiary według sił mechanicznych.
Przyrząd do automatycznego pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia grubych kruszyw
 
AWK 3D
Zakres pomiarowy: 1 - 130 mm

     
System MM    
 

System do pomiaru uziarnienia, który pozwala łączyć wyniki pomiarów z każdego naszego analizatora.
Łączny zakres pomiarowy: 0,2 µm - 130 mm.