Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru

Metody pomiarowe

17 grudnia 2014
Nasza metoda pomiarowa bazuje na teorii optyki geometrycznej i polega na pomiarze cząstek w równoległej wiązce światła. Analizowane cząstki poruszające się w powietrzu lub cieczy powodują, na skutek zjawiska rozproszenia,
27 listopada 2014
Optyczno-elektroniczna symulacja pomiarów mikroziarn powyżej 0,5 μm według sit mechanicznych   STRESZCZENIE Pomiary za pomocą sit mechanicznych, szczególnie mikroziarn są uciążliwe i mało dokładne. Obecna technika pomiarowa dysponuje różnymi metodami optycznymi
26 listopada 2014
Nieznane właściwości  "laserówek"   Przedstawiany w ofertach różnych przyrządów wykorzystujących dyfrakcję laserową (czyli tzw. „laserówek”) „zakres wymiarów badanych cząstek” , na przykład 0,02 µm – 2000 μm należy odróżnić od regulowanego
25 listopada 2014
System do pomiaru uziarnienia materiału mineralnego     Przeznaczenie:   Do określania w warunkach laboratoryjnych krzywej uziarnienia materiałów mineralnych w zakresie od 0,0002 do 130 mm. Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji