19 czerwca 2015
Zapytanie ofertowe nr 1/mini/2015

Zarząd KAMIKA Instruments (Zamawiajacy) w ramach projektu, który Zamawiający zamierza realizować w ramach ogłoszonego w dniu 2 kwietnia 2015r, przez Narodowe Centrum Badań i Rozwoju, konkursu na dofinansowanie projektów w ramach Działania 1.1 „Projekty B+R przedsiębiorstw”, Poddziałania 1.1.1 „Badania przemysłowe i prace rozwojowe realizowane przez przedsiębiorstwa” (tzw. Szybka ścieżka)

 

zaprasza do składania ofert na 
Konwergentny system do wykonywania pomiarów wielkości i kształtu cząstek, archiwizacji, analizy oraz wizualizacji wyników pomiarów 

 

Specyfikacja techniczna zamówienia oraz szczegółowe warunki konkursu ofert  znajdują się w załączonym Zapytaniu ofertowym oraz są dostępne na stronie internetowej KAMIKA Instruments oraz w oddziale Zamawiającego w miejscu publicznie dostępnym.

 

 

Warszawa, 19 czerwca 2015

 

KAMIKA Instruments
Kontakt:
T: +48 22 666 85 68
F: +48 22 666 93 32
E: zamowienia (at) kamika.pl

 

Zapytanie ofertowe nr 1/mini/2015

 

 

Wszystkie aktualne informacje na temat zapytań ofertowych można znaleźć w zakładce Zapytania ofertowe

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm