PRZYRZĄDY

Analizator AWK 3D

Analizator AWK 3D przeznaczony do pomiaru uziarnienia materiałów sypkich

 

PRZEZNACZENIE

 

  • Pomiar trójwymiarowy.

  • Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 1 do 30 mm.

  • Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.

  • Do optymalizacji procesu mielenia czy doboru mieszanek.

  • Do określania kształtu ziaren.

 

 

METODA POMIARU CZĄSTEK

 

Przyrząd składa się z dwóch skrzyżowanych pod kątem prostym optycznych przyrządów pomiarowych, które jednocześnie mierzą przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę. Taki przyrząd można było zbudować dzięki innowacyjnej technologii pomiarowej i cyfrowemu przetwarzaniu wyników pomiarów optycznych oferowanych przez firmę KAMIKA.
Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na dowolną ilość klas wymiarowych.

 

BUDOWA ANALIZATORA AWK 3D

 

Analizator AWK 3D jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [3], do którego podłączone są dwa niezależne tory pomiarowe wielkości cząstek, łącznie z licznikiem pomiarów, co daje możliwość określania kształtu cząstek w trzech wymiarach.

 

Elektroniczny blok pomiarowy [3] jest podłączony do komputera [1].
Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury 
komputera.


Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5]. Drgania powoduje wirujący silniczek elektryczny oraz wspomaganie ultradźwiękowe.


Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.


Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] przez czujnik pomiarowy cząstek [7] do pojemnika znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych.

Analizator AWK 3D - budowa

Schemat analizatora AWK 3D

 

CHARAKTERYSTYKA

 

-

 zakres pomiarowy

1 - 30 mm 

     

-

 źródło światła

 dioda Infrared lub dioda laserowa

-

 zasilanie

 230 V AC, 50 Hz

-

 temperatura użytkowania

 253 do 400 K

-

powierzchnia pomiarowa

 3 600 mm2

 

KOMPLETACJA

 

-

elektroniczny blok pomiarowy AWK

-

sonda z kominkiem

-

szafka AWK ze wspomaganiem aerodynamicznym

-

dozownik z lejkiem

-

zestaw kabli

-

system rejestracji danych

-

oprogramowanie w środowisku MS Windows

 

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

DOKUMENTY

 

 

Galeria zdjęć

Zapytanie o przyrząd

Przyrząd
Twój e-mail
Imię
Nazwisko
Firma/Instytucja
Telefon
Uwagi
wyślij
wyślij
Formularz został wysłany - dziękujemy.
Proszę wypełnić wszystkie wymagane pola!
  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

28 stycznia 2015