05 lipca 2017
Przekształcenie Spółki

Szanowni Państwo

 

pragniemy poinformować, że z dniem 24 czerwca 2017 roku spółka KAMIKA Instruments s.c. Kamińska Dorota, Kamiński Piotr z siedzibą w Warszawie (uprzednio KAMIKA Instruments s.c. Kamińska Dorota, Kamiński Stanisław) przekształciła się w spółkę KAMIKA Instruments Spółka z ograniczoną odpowiedzialnością Spółka komandytowa z siedzibą w Warszawie. W tym dniu nastąpił wpis przekształcenia spółki w Krajowym Rejestrze Sądowym. 


Zmiana formy prawnej spółki pozostaje bez wpływu na jej działalność, jako że spółka komandytowa jest następcą prawnym spółki cywilnej. W związku z powyższym spółka zachowuje swój numer NIP i REGON.


Przekształcenie spółki nie ma również wpływu na ważność zawartych uprzednio umów.


 

 

Dorota Kamińska 
 
Prezes Zarządu
Komplementariusza
KAMIKA Instruments Sp. z o.o. 

 

 

 

 


 

 

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm