19 czerwca 2018
Konkurs - „Projekt wzorniczy obudowy urządzenia pomiarowego mini 3D” - WYNIKI I etapu

Dziękujemy wszystkim Uczestnikom, którzy nadesłali portfolia do I etapu konkursu pt.: „Projekt wzorniczy obudowy urządzenia pomiarowego mini 3D”, który organizowany jest w ramach projektu „Innowacyjny analizator cząstek mini 3D” - umowa z Narodowym Centrum Badań i Rozwoju nr POIR.01.01.01-00-0459/15-00, współfinansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014-2020, Działanie 1.1: Projekty B+R przedsiębiorstw, Poddziałanie 1.1.1: Badania przemysłowe i prace rozwojowe realizowane przez przedsiębiorstwa.

 

Zgodnie z protokołem z posiedzenia Jury Konkursu, spośród 22 nadesłanych portfolio wybrano 4, które zdaniem członków Jury zostały ocenione najwyżej z uwzględnieniem przyjętych kryteriów.

 

Do II etapu zostali zaproszeni:

  1. Latko Michał   

  2. Łukasz Paszkowski Design

  3. Matusik Grzegorz

  4. METODDESIGN.studio Sabina Knapczyk-Marek

 

Gratulujemy i zapraszamy do dalszej współpracy

 

szczegóły konkursu tu => KONKURS

Zespół KAMIKA Instruments

 

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm