15 września 2017
IX Konferencja Powder & Bulk - 18 X 2017 Kraków

W dniu 18 października 2017 r. wraz z organizatorami zapraszamy na IX Konferencję Powder & Bulk „Nowoczesne technologie w branży materiałów sypkich”, na której o godzinie 13:40 wygłosimy prelekcję na temat: „Czym zastąpić sita mechaniczne? Pomiar metodą optyczną sposobem na kilkukrotne przyspieszenie kontroli granulacji”.

 

Konferencja towarzyszy Targom SyMas 2017, które odbywają się w dniach 18-19 października w Krakowie.

 

Targi odbędą się w Międzynarodowym Centrum Targowo-Kongresowym EXPO Kraków , 
ul. Galicyjska 9, Kraków.

 

Godziny otwarcia:

środa, 18 października 2017: 9:30 - 16:30

czwartek, 19 października 2017: 9:30 - 16:00

 

UWAGA!

Wstęp na targi jest bezpłatny dla gości branżowych po rejestracji ONLINE, rejestracji można dokonać na TEJ STRONIE 

Można również zarejestrować się na Targach kupując jednocześnie bilet wstępu.

 

 

Serdecznie zapraszamy

 

 

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm