18 grudnia 2015
System IPS BP do ciągłego pomiaru uziarnienia w rurze transportowej.

W odpowiedzi na potrzeby rynku wprowadziliśmy do naszej oferty system umożliwiający ciągły pomiar uziarnienia na skalę przemysłową od 0,5 μm do 2000 μm. System idealnie nadaje się do pomiaru węgla, popiołu, cementu i innych sproszkowanych substancji, bez ograniczeń wydatku w punkcie pomiarowym. Opracowany pomiar dla jednego punktu można zwielokrotnić,  stosując badanie uziarnienia na każdej rurze wychodzącej z młyna czy kotła. Cel transportu może być różny, to jest kocioł energetyczny, silosy na różne rodzaje popiołów lub cementu, maszyny w dalszym procesie produkcyjnym. Badanie uziarnienia odbywa się w oparciu o metodę ELSIEVE, dzięki czemu jest całkowicie zgodne z tradycyjną analizą sitową. 

 

Opis przyrządu można znaleźć w zakładce przyrządy. 

 

Cały system jest szczegółowo opisny w publikacji "System IPS BP do ciągłego pomiaru uziarnienia w rurze transportowej".

 

 

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm