05 listopada 2014
KAMIKA na targach SYMAS 2014

Serdecznie zapraszamy do zapoznania się z najnowszymi możliwościami pomiaru uziarnienia i kształtu cząstek oraz zapylenia na stoisku B24 na tragach SYMAS 2014 - VI TARGACH OBRÓBKI, MAGAZYNOWANIA, TRANSPORTU I LOGISTYKI MATERIAŁÓW SYPKICH I MASOWYCH


Targi  odbędą się nowym obiekcie wystawienniczym:
Centrum Targowo-Kongresowym Expo Kraków przy ul. Galicyjskiej 9 w Krakowie


Wstęp na targi
UWAGA! Wstęp na targi jest bezpłatny dla gości branżowych tylko po rejestracji ONLINE, rejestracji można dokonać na TEJ STRONIE 
 

Godziny otwarcia
Środa, 29 października 2014, 9:30 - 16:00
Czwartek, 30 października 2014, 9:30 - 15:30

Polecamy także przygotowaną przez nas prezentację "Rozwój pomiarów uziarnienia on-line dla zastosowań przemysłowych "- w czwartek w godzinach 11.40-12.00 w ramach  learnShops™ 

Będziemy także uczestniczyć w towarzyszącej targom VI Konferencja Powder & Bulk „Nowoczesne technologie w branży materiałów sypkich” (Kraków, 29 października 2014 r.), gdzie w godzinach 15.00 – 15.20 dr Kamiński wygłosi wykład "Pomiar kształtu i uziarnienia mikrosfer".
 

Czekamy na Państwa na stoisku B24.

  1. pl
  2. en
  3. ru

zakres pomiarowy

KAMIKA Instruments

Nieograniczony

Wybierz język:

Infolinia: +48 22 666 93 32

Projekty unijne

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Podział przyrządów

Pełna oferta

Media społecznościowe

Co potrzebujesz zmierzyć?

 

 

 

 

Jakość zgodna z ISO 9001

Przyrządy

Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator mini

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 




Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm