Analizator mini3D

zakres pomiarowy: 0,5 - 3500 µm 

 

 

 

Analizator IPS KF - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS BP

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator P_AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,1 - 15 mm 

Analizator 2DiSA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analiaztor IPS P - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS K - Pyłomierz

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS UA

zakres pomiarowy: 0,5 - 2000 µm 

Analizator IPS GA

zakres pomiarowy: 0,5 - 300 µm 

Uśredniacz

Dla cząstek do 2 mm

Analizator IPS T

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK D

zakres pomiarowy: 50 µm - 4 mm 

Analizator AWK B - do pomiaru uziarnienia

zakres pomiarowy: 1 - 130 mm 

Analizator IPS Q

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator IPS SAM

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Stoisko do badania sprawności filtrów

zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm

Analizator AWK C

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Analizator IPS U

zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm 

Analizator AWK 3D

zakres pomiarowy: 0,2 - 31,5 mm 

Przyrządy

Jakość zgodna z ISO 9001

 

 

 

 

Co potrzebujesz zmierzyć?

Media społecznościowe

Pełna oferta

Podział przyrządów

Sprawdź podział przyrządów ze względu na rodzaj pomiaru

Projekty unijne

Infolinia: +48 22 666 93 32

Wybierz język:

Nieograniczony

KAMIKA Instruments

zakres poomiarowy

  1. pl
  2. en
  3. ru
27 listopada 2014
Drogownictwo

Wychodząc naprzeciw oczekiwaniom naszych klientów stworzyliśmy kompleksowe rozwiązania pomiarowe dla drogownictwa:

 

mini 3D  /  IPSU  / IPS A  /  AWK 3D  / AWK B  /  IPS L  /  IPS Q

 

 

mini 3D

  

 

 

Analizator do pomiaru kształtu oraz rozkładu wymiarów cząstek stałych w powietrzu niezależnie od ich właściwości fizycznych i chemicznych w warunkach laboratoryjnych, pomiaru wielkości cząstek wilgotnych i sklejających się od 0.5 do 600 µm oraz cząstek niesklejających się od 2 do 2000 µm (opcja). Przyrządem mini 3D można zmierzyć granulację (zgodność z analizą sitową) oraz oznaczyć powierzchnię właściwą (zgodnie z metodą Blaine'a) badanych substancji (przy znanym stopniu porowatości ziaren)

 

 

 

IPS U

 

 

 

Przyrząd do pomiaru wielkości drobnych cząstek substancji o sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.  Przystosowany do łatwych pomiarów cementu, wapnia i innych substancji.

Zakres pomiarowy: 0,5 - 600 µm

 

 

 

IPS A

 

 

 

Przyrząd uniwersalny do pomiaru na sucho cząstek sypkich substancji w powietrzu, o nie sklejających się ziarnach, określający kształty, wymiary i powierzchnię właściwą.
Przystosowany do łatwych pomiarów piasku i innych materiałów.
Zakres pomiarowy: 2 - 2000 µm

 

 

 

AWK 3D

 

 

 

Przyrząd do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków).
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych.
Do trójwymiarowego określania kształtu ziaren
Zakres pomiarowy 0,2 - 31,5 mm

 

 

 

AWK B

 

 

 

Unikalny przyrząd z automatycznym dozownikiem do pomiaru granulacji substancji charakteryzujących się dużą średnicą cząstek.
Zakres pomiarowy: 1 - 130 mm

 

 

 

IPS L

 

 

 

Przyrząd do pomiaru cząstek stałych o dowolnej koncentracji zawieszonych w cieczy (w wodzie lub roztworach wodnych). Przystosowany do pomiaru wielkości cząstek emulsji asfaltowej.
Umożliwia zastąpienie żmudnej analizy areometrycznej gruntu pomiarem elektronicznym.
Zakres pomiarowy: 0,2 - 500 µm.

 

 

 

IPS Q

 

 

 

Monitoring emisji pyłów wytwarzanych przez maszyny do produkcji masy bitumicznej.
Monitoring zapylenia na drogach i autostradach.
Zakres pomiarowy: 0,4 - 300 µm.

 

 

 

System MM

 

 

 

 

System do pomiaru uziarnienia materiałów mineralnych i określania krzywej uziarnienia w zakresie od 0,0005 do 130 mm.


Do optymalizacji tworzonych mieszanek MM w funkcji dowolnych parametrów.
Łączny zakres pomiarowy: 0,2 µm - 130 mm.